Layanan journal yang disediakan oleh Perpustakaan Universitas Gunadarma
| Judul Artikel | : | Transmission Electron Microscopy Characterization of High- Temperatur Oxidation of Fe-20Cr-SAI Alloy Prepared by Focused Ion Beam Technique |
|---|---|---|
| Judul Terbitan | : | MAKARA JOURNAL OF TECHNOLOGY |
| ISSN | : | 23552786 |
| Bahasa | : | IND |
| Tempat Terbit | : | Jakarta |
| Tahun | : | 0000 |
| Volume | : | Vol. 19 Issue 2 0000 |
| Penerbit | : | Directorate of Reserch and Community Engagement, Universitas Indonesia, Indonesia |
| Frekuensi Penerbitan | : | - |
| Penulis | : | Mohammad Dani, Pudji Untoro, Teguh Yulius Surya Panca Putra, Parikin Joachim Mayer, and Arbi Dimyati |
| Abstraksi | : | rakterisasi TEM pada Paduan Fe-2oCr-sAI Oksidasi Temperatur Tinggi Menggunakan Teknik Preparasi FIB. eknik berkas ion terfokus atau focused ion beam (FIB) diterapkan untuk persiapan melintang (cross section) aloi oksidasijenis Fe-20Cr-5Al untuk kajian mikroskop transmisi elektron atau transmission electron microscopy (TEM). belum persiapan dilakukan, spesimen lembar aloi Fe-20Cr-5AI dioksidasi di udara pada suhu 1200 -c selama 2 enit, 10 menit, 2 jam, dan 100 jam. Struktur mikro dan komposisi elemen dari sampel tersebut dianalisis nggunakan TEM yang dilengkapi dengan spektroskopi sinar-X energi dispersif atau energy dispersive X-Ray ctroscopy (EDX). Spektroskopi kehilangan energi elektron atau electron energy loss spectroscopy (EELS) gunakan untuk menentukan elemen cahaya. Penggunaan TEM memperlihatkan evolusi struktur mikro yang luar biasa spesimen ketika oksidasi dilakukan, yang biasanya memperlihatkan struktur berlapis yang tipika!. Citra TEM mberikan deskripsi yang mendetail mengenai berbagai fase yang muncul setelah oksidasi, seperti lapisan Tungsten ) dan Gallium (Ga) yang terbentuk di atas sampel selama masa persiapan FIB, pembentukan lapisan Ah03 dan 0,. spinel MgAI204, porositas, berbagai fase atau kelompok Zr/Hf/Mg di dalam skala oksida. Maka dari itu, teknik telah terbukti sebagai teknik persiapan yang dapat diandalkan untuk meneliti struktur mikro dan elemen dari aloi 20Cr-SAI dengan TEM. |
| Kata Kunci | : | EELS; EDX Fe-20Cr-5AI alloy; FIB; Oxidation; Preparation; TEM |
| Lokasi | : | P85 |
| Terakreditasi | : | belum |